Friday, April 4, 2014

光​的​偏​振 如果電磁振動只發生在一個平面內,亦即電場振動方向及磁場振動方向固定的光. 稱為偏振光

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第​6​章​-​光​的​偏​振


光的偏振

www2.nsysu.edu.tw/optics/polarizer/polarization.html
此外在進階實驗更進一步介紹偏振光在目前十分重要的應用-----橢圓偏光儀。 ... 偏振光. 光是一種電磁波, 一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。如果電磁 ...

www2.nsysu.edu.tw/optics/polarizer/polarization.html
光是一種電磁波, 一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。如果電磁振動只發生在一個平面內,亦即電場振動方向及磁場振動方向固定的光稱為偏振光。
  • 寶石鑑定儀器- 偏光儀- 鑽石教育- 專業知識Blog - 嚴規正鑽

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    偏振光是一種電磁波, 一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。如果電磁振動只發生在一個平面内,亦即電場振動方向及磁場振動方向固定的光稱為偏振光 ...
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    嘉大光電實驗講義 - 國立嘉義大學應用物理學系

    www.phys.ncyu.edu.tw/~optoelectronics.../1-06-Polarization-Text.pdf
    偏極光:光是一種電磁波,一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。 如果電磁振動只發生在一個平面內,亦即電場振動方向及磁場振動方向固定的光. 稱為偏 ...
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    Reference 1 - 物理學系暨研究所

    web.phys.ntu.edu.tw/asc/FunPhysExp/.../exp/EllipticalPolarization.pdf
    光是一種電磁波,一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。如果. 電磁振動只發生在一個平面內,亦即電場振動方向及磁場振動方向固定的光稱為. 偏振光。
  • 光的偏振_百度文库

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    2013年3月23日 - 反射光的偏振性偏振光光是一種電磁波, 一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。 如果電磁振動只發生在一個平面內, 亦即電場振動方向 ...
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    Polarization Light就是「偏振光」,偏振光是一種電磁波, 一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。如果電磁振動只發生在一個平面內,亦即電場振動方向及 ...
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    1 £¤¥2 ¦ §¨3 ©¡ 4 1 !"#$%#&' 2 ()0 123 45 6 3 ()0 123 ... - 中華科技大學

    aca.cust.edu.tw/pub/journal/43/43-04.pdf
    由 SHJZ Wen-Jing 著作 - ‎相關文章
    光是一種電磁波, 一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。 如果電磁振動只發生在一個平面內,亦即電場振動方向及磁場振動方向固定的光. 稱為偏振光。
  • b92202005 陳韋霖b92202045 馮韋鈞


    b92209031 吳映嫺b92901093 邱雁亭


    21 2006 5


    2006/5 21組 陳韋霖馮韋鈞吳映嫺邱雁亭





    1


    目錄一、緒論


    A. 偏振光簡介


    B. 實驗目的




    二、實驗原理

    A. 延遲理論 (Retardation Theory)




    B. Jones Vectors and Matrices

    C. 推論分析




    三、研究方法

    A. 研究工具



    (i) Soleil-Babinet Compensator


    (ii) PEM-90

    B. 實驗方法




    四、研究結果

    A. 示波器校正modulator圖形


    B. 數據分析


    C. 示波器FFT的結果




    五、討論與建議

    A. 討論樣品快軸


    B. DC值震盪




    六、參考資料

    2006/5 21組 陳韋霖馮韋鈞吳映嫺邱雁亭





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    一、 緒論

    A. 偏振光簡介



    偏振

    偏振(polarization)描述了一個均勻平面波在空間中一個固定點上的電場強度




    變化,是空間及時間的函數。偏振可以用二維向量來描述,可以是x 及y的分量,


    也可以以左旋及右旋來說明。

    偏振光

    光是一種電磁波,一般的光線在前進時,電磁振動方向四面八方都有。如果


    電磁振動只發生在一個平面內,亦即電場振動方向及磁場振動方向固定的光稱為


    偏振光。其電場方向便稱為光的偏振方向。偏振光的種類可分為如下:

    1. 線偏振光:電場振動方向不隨時間變化的偏振光。


    2.橢圓偏振光:電場振動方向的兩個正交分量相位、振幅不相同,形成橢圓




    偏振光。

    3. 圓偏振光:光波電場振動方向的兩個正交分量相位不相同而振幅相同,




    形成圓偏振光。

    偏光器

    偏光器可用來吸收某一方向之線偏振光,而輸出與其相垂直的線偏振光。可


    用偏光器來選擇某一特定方向之偏振光,已偏振化的光再經過一個偏光器時可全


    部通過或部分通過,視第二個偏光器的方向而定。

    波片(sheet polarizer)



    一種具雙折射性質的光學元件。光通過此元件時,電場沿某一方向(F軸,


    快軸)振動的光速度較快,而電場沿與此方向相垂直之方向(S軸,慢軸)振動的光


    速度較慢。於是當此二方向之光要通過此光學元件時會產生相位差,若此相位差


    恰等於四分之一波長時,稱此光學元件為四分之一波片。若此相位差恰等於二分


    之一波長時,稱此光學元件為半波片(又稱二分之一波片)。四分之一波片及半波


    片是利用此雙折射光學元件之厚度來控制,並且二個電場振動方向產生之相位差


    與通過此元件之光波長有關,不可任意調換使用。半波片及四分之一波片性質可


    整理如下(實驗原理中有更詳細說明):

    1.半波片(half-wave plate):線偏振光通過半波片後還是線偏振光。


    2.四分之一波片(quarter-wave plate):線偏振光通過1/4波片後有三種情形:




    (i) 線偏振


    (ii) 橢圓偏振

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    (iii) 圓偏振(入射偏振方向與快軸夾45°)。

    波片因能造成相位差,故又稱相延遲器(phase retarder)


    B. 實驗目的


    利用Photoelastic modulator(PEM-90)於訊號光加上相位的變化,輸入偵測器




    後利用鎖相放大器截取特定頻率的訊號,藉此測量橢圓偏振光的特性。

    二、 實驗原理

    A. 延遲理論 (Retardation Theory)


    延遲理論(retardation theory)是用來分析具有某種初始形式的偏振光,垂直通

    過一片或多片波片(wave plate)後所產生變化的計算方法。利用延遲片(retarder)

    會轉變任一給定的偏振相態,並產生圓偏振或橢圓偏振。一般延遲片(亦稱減速

    )分為波片(wave plate)和菱面體(rhomb),具有線性雙折射特性,是可用以改變




    或檢驗光的偏振狀況之晶體薄片。

    當一道單色平面光射入一單軸晶體(如方解石),會分成ordinary wave(o-wave)


    extraordinary wave(e-wave),如下圖所示,入射光的電場若同具有垂直與平行

    光軸的分量,兩道平面波就會透過晶體傳送,因為 // > no > nee-wave在樣

    品中速度較快,經過厚度為d的波片,得到結果是兩者的疊加,而兩者有相位差



    ( )


    2

    0


    o e = d n n





    平面光入射晶體分為o-wave e-wave


    半波片(half-wave plate)


    料厚度使得e-wave o-wave的相位差為 ,可使橢圓偏振光""

    向,意即改變圓偏振或橢偏振的旋光性,可右旋光轉為左旋光,之亦然;


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    或是轉線偏振光的方向(下圖左)。關式如下:


    ( ) (2 1) / 2 0


    d n n = m + o e m=0,1,2,…


    四分之一波片(quarter-wave plate)


    料厚度使得e-wave o-wave的相位差為 /2,可使45度的線偏振光轉

    變為圓偏振光(下圖右)。關式如下:


    ( ) (4 1) / 4 0


    d n n = m + o e m=0,1,2,…


    線偏振光入射半波片後旋轉90度線偏振光入射四分之一波片




    出射光轉變成為圓偏振光

    B. Jones Vectors and Matrices

    在進行光分析時,可以利用向量以及矩陣別表射光的xy分量(

    射光+z軸行進,x軸為平方向,y軸為直方向)以及光學元件。

    xy分量的矩陣稱為Jones Vectors示光學元件的矩陣則稱為Jones

    Matrices。一般而射光xy分量的Jones Vectors示如下:






    − +


    ( )


    ( )


    i kz t


    y


    i kz t


    x










    其中ExEyxy分量的振幅,為兩分量之相位差。當射光通過

    光學元件時,可視為一個2×2矩陣作用在此向量上,此矩陣即為光學元件的


    Jones Matrix。以實驗而,所用到的光學元件分analyzer(polarizer)


    compensatormodulatoranalyzerJones Matrix示為:







    =

    0


    2


    0 0


    0 0 0


    2


    sin cos sin


    cos sin cos




    p


    其中 0analyzer偏振方向與x軸之夾compensatorJones Matrix


    示為:






    0 1

    ei 0


    其中 示光通過compensator時,x分量會加上相位 modulator


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    亦有類Jones Matrix






    +


    0 1

    0 0 cos( )


    iA t e


    光通過modulator後,x分量會加上相位A0cos(wt+)。在不一般性的

    情況下,必須要考compensatormodulator在光上,亦即可能與x


    軸有一非零 。因此,於其Jones Matrix,可以先將雷射光座標系x軸轉


    compensatormodulator座標系x疊,用之後再轉一- 到原光

    座標系Jones Matrix可分別表示為:(comcompensatormmodulator)















    = −

    1 1


    1 1


    1 1


    1 1


    sin cos


    cos sin


    0 1


    0


    sin cos


    cos sin






    ei





    com






    − + +


    = + − +

    1


    2


    1


    2


    1 1


    1 1 1


    2


    1


    2


    cos sin ( 1 ) sin cos


    cos sin cos sin ( 1 )








    i i


    i i


    e e


    e e













    = − +





    3 3


    3 3


    cos( )


    3 3


    3 3


    sin cos


    cos sin


    0 1


    0


    sin cos

    cos sin 0








    iA t e






    m






    − + +

    = + − + + +






    + +


    3


    2


    3


    cos( ) cos( ) 2


    3 3


    cos( )


    3 3 3


    2


    3


    cos( ) 2


    cos sin [ 1 ] sin cos


    cos sin cos sin [ 1 ]

    0 0


    0 0









    iA t iA t


    iA t iA t


    e e


    e e


    C. 推論分析

    由上述推論,將雷射光通過的光學元件的Jones Matrix相乘得到一個2×2

    陣,此矩陣為光路的等效Jones Matrix,可表示如下:





    2 1


    3 4


    1 2 p n com p








    G G



    G G =








    參考儀器架設圖,p1代表從雷射光出射後經過的第一個analyzerp2代表


    detector前的第二個analyzer。由於矩陣過於龐大,此處以G1G2G3G4分別

    代表矩陣各分量。雷射光通過各光學元件後進入detectordetector只能探測光強

    度,即為電場的平方。現在先假設雷射光通過光路等效Jones Matrix後有如下之




    形式:









    =



    y


    x


    y


    x


    G G


    G G











    3 4


    1 2


    detector偵測到的光強度即為:





    * *


    x x y y


    T


    y


    x


    y



    x I









    + =










    =

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    在本實驗中,將p1 0設為 /4p1 0設為- /4 1 3均設為0。化簡

    整理上式後可得到如下之形式:(計算由Mathematica進行)




    ( ){1 cos[ cos( )]}


    4


    1

    0


    I 2 2 A t x y



    = + − + +

    對上式進行Fourier-Bessel series展開,可以得到:






    = + − + − +

    =1






    0 0 2 0


    ( )2 {1 cos ( ) 2 [( 1) ( ) cos(2 ( ))]




    4


    1

    k


    k


    k



    x y I J A J A k t



    sin 2 [( 1) ( ) cos((2 1)( ))}

    1


    2 1 0






    =


    + + − + +







    k


    k



    k J A k t


    整理上式,可得DC項、項、2項:



    DC: ( ) [1 cos ( )]


    4


    1

    0 0


    2 J A x y


    +


    : ( ) sin ( )




    2


    1

    1 0


    2 J A x y


    +



    2: ( ) cos ( )


    2


    1

    2 0


    2 J A x y


    +



    三、 研究方法

    A. 研究工具



    (i) Soleil-Babinet Compensator

    補償儀(compensator)是一種可以控

    制光延遲效應的光學儀器(見右圖)。其




    介質具雙折射性,本實驗所用的

    compensatorSpecial Optics公司生產

    8-400型。其介質為石英(quartz),折

    射率差為0.009

    早期常用的compensatorBabinet

    compensator(見下頁左圖),由兩片光軸互相垂直的楔形方解石(或石英)組成,可




    產生的相角差:

    ( )( )


    2

    1 2


    0


    o e = d d n n






    藉由毫米尺度的水平移動,可調整波片厚度(d1d2),而得到連續變化的相

    對相角差( )。但這種compensator會因整個平面的(d1-d2)都不同而產生條紋


    (fringe),為改善條紋又細又窄不易判定的干擾情形,產生了現在更常用的Soleil

    compensator(見下頁右圖),如此一來整個平面的厚度(由d1控制)都是定值。




    detector

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    Babinet compensator Soleil compensator


    (ii) PEM-90


    PEM-90,photoelastic modulators(光彈性調制器)。利用photoelastic effect(光


    彈性效應)製作的光學元件(如下圖左)。所謂photoelastic effect 指的是當透明介質


    受機械應力時,它的光學性質會產生變化,例如同相光(isotropic)變為異相光


    (anisotropic)的現象,稱作機械雙折射(mechanical/stress birefringence),且雙折射


    與樣本受機械應力產生的應變(strain)成正比。


    如下圖右所示,圖片中左端部分為透明材料(自然共振頻率為50kHz)、右端


    黑色部分為光彈性介質及黑色邊緣趨動電路(造成振動),使得雙折射以低頻率


    (20~100kHz)振盪,快軸受到驅動與慢軸產生相差,因而調制所要的偏振狀態(線


    偏振、圓偏振或橢圓偏振)。


    photoelastic modulators構造圖


    photoelastic modulators


    機械應力導致折射率變化

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    B. 實驗方法

    實驗儀器

    所需實驗儀器如下:


    1.氦-氖雷射(633nm)


    2.偏振片兩組


    3.Soleil-Babinet Compensator

    4.PEM-90TM Photoelastic




    Modulator System

    5.DET-90TM Photodiode




    Detector/Preamplifier


    6.鎖相放大器


    7.三用電表


    8.示波器

    儀器架設

    參考儀器架設圖,將元件擺放至正確位置


    可將PEM-90的參考訊號及DET-90分別至示波器的訊號及CH1

    端,可從示波器FFT觀察定頻率的訊號強度。

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    儀器設定

    1.Photoelastic Modulator的設定:

    (i)定BNC接頭接好



    Optical head及Electronic


    Head,且Electronic head的

    一個接頭接好PEM-90

    controller之後

    PEM-90 Controller之電




    (ii)設定Retardation amplitude

    時,在面右方設定波

    He-Ne laser出來的光波為632.8 nm,大振2.407(rad),使

    得在Bessel function展開中的J0(A0)=0.




    2.鎖相放大器的設定:

    (i)進入input menu,調至A,GND,sensitivity100ms 當即可,

    實驗過注意不要使其overload將ref. freq.調至50.8kHzDisplay

    調至R- ,其設定為設值即可。

    (ii)實驗過中,input menu上的紅燈亮起,表示鎖相放大器未讀

    input 訊號檢查線路連否無誤,或是光路是進入測器中

    Reference menu上的紅燈亮起檢查線路及鎖相放大器上的Ref

    frequency 是在50kHz。



    儀器校正

    1.正偏振片:先調整analyzer之光軸與垂直線成45?,使用此角度為基準


    正,調整偏振片使得雷射光通過兩偏振片後光完全不通過,此時




    Polarizer與Analyzer之光軸垂直。

    2.正modulator(PEM-90)之角度:將modulator架設於analyzer前方(如上

    圖),調整至大水平後,將鎖相放大器之reference調至E/2F(External/2F)

    檔位(此時E/F之值應為0),調整modulator之細調節輪,使訊號讀


    值為大,或使E/F的R值最小,此時modulator即為水平。

    3.出compensator之光軸。先架設compensator於polarizer與modulator

    ,先任意選取一個厚度,接著旋轉整個compensator,此時鎖相放大

    器之E/F訊號應會改變(若無表示選取的厚度剛好使compensator之

    retardation(相延遲)為π的整數倍,此時再隨便改變一下厚度即可),當調

    訊號為0時,表示光經過polarizer及compensator後有圓偏振的成分,

    此時polarizer之OA與compensator之FA或SA平行,此時即可




    compensator之光軸。

    4.出compensator之retardation與厚度的關係。先將compensator之

    OA調至水平(方分析)並暫時移開modulator,調整compensator之厚度,

    直到通過analyzer的光點消失,此時成compensator之調節;接下來將

    modulator放回原位我們監測E/F的訊號,調至訊號為0處,此時有圓

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    10

    偏振分量,retardation為2 的整數倍後調整(增加)厚度,使E/F

    號再成為0時,compensator為1/4波片,再次使E/F訊號為0 retardation

    經過了2 記錄起迄厚度即可藉由厚度調整任意retardation。



    實驗步驟

    1.完成所有校正工作後,就不要再移動所有的光學元件。


    2.進行實驗前首先必須要調整modulatorretardation amplitude使得最大振幅

    A0=2.40483(A0Bessel function J0zero),並將modulator的參考訊號接


    至鎖相放大器的參考訊號端。(鎖相放大器內部產生ref. freq.效


    )

    3.調整polarizer角度及compensator之厚度,到達所需的參數,製造出橢圓偏

    振光,此即為待測之橢圓偏振光。調整analyzer的角度是為了改變E0y、E0x


    比;調整Compensator之厚度,是為了改變ExEy

    4.調整analyzer保持與水平夾角45?modulator為水平,在測器接收訊號

    的同時,利用三用電表之DC檔位測量DC訊號並利用鎖相放大器測量


    1f(E/F檔位)2f(E/2F檔位)訊號。


    5.同時,將analyzermodulator繞光徑旋轉45?,作同步驟4.之測量,如此是

    為了造成另一組方程式來決定Ey、Ex的比值,此時紀錄I(0?VDCV1f


    V2f值。


    6.計算偏振光的之參數,與理論值進行比較。


    7.改變偏振參數(步驟3),再重複步驟4~6


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    11

    四、 研究結果

    A. 示波器正modulator圖形

    參考儀器架設圖示,將compensator從光路中移將detector出及

    modulator參考端在示波器上,調整A0值可得到如下之圖形。




    Retardation <90% half wave Half wave retardation Retardation >110%half wave

    A0 = 2.822(rad) A0 = 3.142(rad) A0 = 3.582(rad)

    B. 數據分析

    光學元件架設:第一個polarizer(45? compensator(0°) modulator(0°)


    第二個polarizer(-45?。由三用電表測量DC值、由鎖相放大器測量1f、2f 值。

    DC(V) 1f(mV) 2f(mV) d(0.01mm) tan



    1.325 0.78 0.441 0 1.462585 0.97108


    1.337 0.661 0.608 50 0.899007 0.732266


    1.344 0.49 0.745 100 0.543882 0.498134


    1.342 0.29 0.831 150 0.288577 0.280945


    1.345 0.074 0.877 200 0.069775 0.069662

    1.276 0 0.838 212.5 0 0



    1.35 0.147 0.871 250 0.139561 0.138665


    1.338 0.358 0.806 300 0.367293 0.351997


    1.223 0.5 0.645 350 0.641026 0.57004


    1.297 0.685 0.546 400 1.03744 0.803772


    1.338 0.829 0.391 450 1.753246 1.052448


    1.342 0.907 0.196 500 3.826629 1.315186

    1.296 0.904 0 543 1.570796



    1.345 0.931 0.011 550 69.98776 1.556509


    1.328 0.892 0.216 600 3.414886 1.285925


    1.344 0.824 0.414 650 1.645857 1.024817


    1.344 0.699 0.584 700 0.989759 0.780251

    2006/5 21組 陳韋霖馮韋鈞吳映嫺邱雁亭



    12


    1.333 0.534 0.716 750 0.616728 0.552628


    1.32 0.336 0.805 800 0.345151 0.332348


    1.314 0.127 0.858 850 0.1224 0.121794

    1.29 0 0.842 875.6 0 0



    1.33 0.089 0.873 900 0.084303 0.084104


    1.331 0.301 0.828 950 0.300609 0.292015


    1.31 0.49 0.726 1000 0.558116 0.509053


    1.325 0.663 0.605 1050 0.906198 0.736229


    1.323 0.794 0.439 1100 1.495619 0.981443


    1.316 0.873 0.252 1150 2.864698 1.234944


    1.309 0.908 0.05 1200 15.01692 1.504303

    1.299 0.906 0 1207.9 1.570796



    1.282 0.874 0.149 1250 4.850542 1.367482


    1.184 0.753 0.312 1300 1.995747 1.106297


    1.108 0.61 0.439 1350 1.149028 0.854634


    1.083 0.474 0.549 1400 0.713955 0.620031


    1.23 0.367 0.725 1450 0.418594 0.396432


    1.301 0.185 0.835 1500 0.183211 0.181201

    1.3 0 0.852 1539.6 0 0



    1.289 0.029 0.844 1550 0.028413 0.028406


    1.278 0.179 0.618 1600 0.239513 0.235085


    1.268 0.444 0.722 1650 0.508523 0.470443


    1.273 0.612 0.608 1700 0.832363 0.694166


    1.302 0.753 0.46 1750 1.353637 0.934534


    1.301 0.855 0.284 1800 2.489504 1.188837


    1.314 0.911 0.087 1850 8.65893 1.455818

    1.32 0.913 0 1872.2 1.570796



    1.32 0.91 0.118 1900 6.377119 1.415252


    1.329 0.863 0.317 1950 2.251213 1.152772


    1.336 0.761 0.5 2000 1.258577 0.899389

    (i)橢圓偏振光 與compensator旋鈕刻度(d)之關係如下:





    d


    f J A


    f J A =



    2 * ( )


    1 * ( )


    tan

    1 0


    1 2 0 (A0 = 2.407、J1(A0) = 0.52、J2(A0) = 0.43)




    可由Excel作圖如下:

    2006/5 21組 陳韋霖馮韋鈞吳映嫺邱雁亭



    13

    0


    0.2


    0.4


    0.6


    0.8


    1


    1.2


    1.4


    1.6


    1.8


    0 200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800 2000


    d


    (ii) d 與z(compensator實厚度)之關係





    n


    = z




    2





    n


    z




    =

    2

    其中 =633nm、 n =0.009(石英)

    DC(V) 1f(mV) 2f(mV) d(0.01mm) tan (rad) z(nm)




    1.35 0.147 0.871 250 0.139561 0.138665 1552.499


    1.338 0.358 0.806 300 0.367293 0.351997 3940.963


    1.223 0.5 0.645 350 0.641026 0.57004 6382.179


    1.297 0.685 0.546 400 1.03744 0.803772 8999.041


    1.338 0.829 0.391 450 1.753246 1.052448 11783.22


    1.342 0.907 0.196 500 3.826629 1.315186 14724.84


    由Excel作圖如下:

    z = 52.574d - 11818


    0


    2000


    4000


    6000


    8000


    10000


    12000


    14000


    16000


    0 100 200 300 400 500 600


    d


    z


    2006/5 21組 陳韋霖馮韋鈞吳映嫺邱雁亭



    14

    C. 示波器FFT 的結果


    光學元件架設:第一個polarizer(45? compensator(0°) modulator(0°)


    第二個polarizer(-45?。將detector出端及modulator參考端至示波器,使

    用FFT(Fast Fourier Transform)觀察

    (i)調整compensator的旋鈕刻度d使奇數倍頻率趨


    <原始波形> <Fourier Transform>

    (ii)調整compensator的旋鈕刻度d使偶數倍頻率趨


    <原始波形> <Fourier Transform>

    2006/5 21組 陳韋霖馮韋鈞吳映嫺邱雁亭



    15

    五、 討論與建議

    A. 論樣快軸

    實驗中我們發現不compensator是在0?或90?時,我們都可得到一個Local

    Maximum,此可能為快軸或慢軸(參理論推導部,將compensator的Jones

    Matrix 1 /2代入,經過計算可以得到相同的結果),因此本實驗

    我們確未知晶體的快軸,得快軸慢軸之相對位置

    至於為兩個Local Maximum之值有差,因應為:當我們將compensator


    旋轉90?後,入射光位置不在同一上,因此實驗分析中的z值改變,因而

    造成些微誤差。

    B. DC值

    實驗中,我們發現DC值會隨著compensator旋鈕刻度d改變而跟著改變。

    然而理論上,我們已經設定modulator的A0值使得DC項中的J0(A0)值為,因

    此DC值應不會有任何改變。推測因有二:其一是modulator所出的A0


    不能完全使J0(A0)值,因此會產生些微震其二是隨著d改變,光通

    過compensator的厚度改變,材料對於光會有些微吸收因此同樣會使得DC

    值產生變化,且d大DC值會有下的趨。下圖為DC 對d的作圖:





    0


    0.2


    0.4


    0.6


    0.8


    1


    1.2


    1.4


    1.6


    0 200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800 2000


    d


    DC(V)


    2006/5 21組 陳韋霖馮韋鈞吳映嫺邱雁亭



    16

    六、 參考資料

    1. Optics, 4th edition, Hetch


    2. PEM-90 Manual


    3. Lock-in Amplifier Manual

    4. http://www.specialoptics.com/polaropt.html#soleil


    5. 牛頓物辭典

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